
利用標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布(u分布)對(duì)單個(gè)或兩個(gè)大樣本統(tǒng)計(jì)數(shù)所作的假設(shè)測(cè)驗(yàn)。也稱Z測(cè)驗(yàn)或C測(cè)驗(yàn)。由于u分布的正態(tài)特性, 樣本統(tǒng)計(jì)數(shù)與總體參數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)離差落在某一數(shù)值范圍之外 (或之內(nèi))的概率, 可從正態(tài)曲線累積概率表查得。如雙尾測(cè)驗(yàn)的概率水平a=0.05時(shí),
P(|u|≥1.96)=0.05
式中 P代表概率, |u|≥1.96為否定區(qū), |u|<1.96為接受區(qū)。在對(duì)大樣本平均數(shù)作假設(shè)測(cè)驗(yàn)時(shí), 應(yīng)先把離差轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)離差u。單個(gè)平均數(shù)測(cè)驗(yàn)時(shí),
u=[-μ]/σ
兩個(gè)平均數(shù)測(cè)驗(yàn)時(shí),式中 、、為樣本平均數(shù), σ為單個(gè)樣本平均數(shù)
標(biāo)準(zhǔn)誤,σ(-)為兩個(gè)樣本平均數(shù)差數(shù)標(biāo)準(zhǔn)誤。實(shí)際上,σ值只能用S=S/來(lái)估計(jì);σ(- ......
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