
利用X射線通過晶體時(shí)產(chǎn)生的衍射圖像來測定晶體結(jié)構(gòu)的方法。其特點(diǎn)是只需要少量樣品,且對樣品無損傷和消耗,可得到晶體的組成方式、原子在三維空間的分布等信息。
原理 組成晶體的原子在三維空間作規(guī)則的排列,X射線是一種波長與原子間的距離(~10-8厘米)相當(dāng)?shù)碾姶挪?,?dāng)它與晶體相遇時(shí)可產(chǎn)生衍射現(xiàn)象。根據(jù)晶體點(diǎn)陣及組成的不同,分別得出其特征的衍射圖像。當(dāng)入射線1,2投射到一組間距為d的晶面上時(shí),在各個(gè)方向的散射線中只有當(dāng)1A1 和2B2′之間的光程差(CB+BD)為入射線波長(λ)的整數(shù)倍時(shí)才能產(chǎn)生衍射,即:
2dsinθ= nλ
式中 θ為入射角(圖1)。這就是衍射的基本方程布拉格方程。圖1 X射線 ......
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